
编号子编号类型领域子领域(工艺链)问题【1–3nm CPU/GPU/ASIC/SerDes+PDN供电网络+PCB+超节点服务器】问题的数学分析及制造数学 制造电学科学分析(逐步推理+核心式,含组合数学、线性代数、非线性代数等)参数范围(可算区间)及数值分析关联痛点 / 产品/关联知识 法律法规和国际标准/国际标准/行业标准44.1制造电学3D IC与先进封装硅通孔(TSV)与中介层1–3nm chiplet异构集成中TSV的高频寄生效应与信号完整性逐步推理: TSV作为垂直互连,在高频下呈现显著的寄生电阻、电感和